第二十九章 读写内部FLASH
第二十九章 读写内部FLASH
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第二十九章 读写内部FLASH
1 W55MH32的内部FLASH简介
1.1 内部FLASH的构成
2 对内部FLASH的写入过程
2.1 解锁
2.2 页擦除
2.3 写入数据
3 查看工程的空间分布
3.1 程序ROM的加载与执行空间
3.2 ROM空间分布表
4 操作内部FLASH的库函数
4.1 FLASH解锁、上锁函数
4.2 设置操作位数及页擦除
4.3 写入数据
5 读写内部FLASH
5.1 代码分析
5.2 下载验证
6 FLASH_Eeprom
6.1 代码分析
6.2 下载验证
1 W55MH32的内部FLASH简介
在W55MH32芯片内部有一个FLASH存储器,它主要用于存储代码,我们在电脑上编写好应用程序后,使用下载器把编译后的代码文件烧录到该内部FLASH中, 由于FLASH存储器的内容在掉电后不会丢失,芯片重新上电复位后,内核可从内部FLASH中加载代码并运行, 见下图,W55MH32的内部框架图:
除了使用外部的工具(如下载器)读写内部FLASH外,W55MH32芯片在运行的时候,也能对自身的内部FLASH进行读写,因此, 若内部FLASH存储了应用程序后还有剩余的空间,我们可以把它像外部SPI-FLASH那样利用起来,存储一些程序运行时产生的需要掉电保存的数据。
由于访问内部FLASH的速度要比外部的SPI-FLASH快得多,所以在紧急状态下常常会使用内部FLASH存储关键记录;为了防止应用程序被抄袭, 有的应用会禁止读写内部FLASH中的内容,或者在第一次运行时计算加密信息并记录到某些区域,然后删除自身的部分加密代码,这些应用都涉及到内部FLASH的操作。
1.1 内部FLASH的构成
W55MH32的内部FLASH包含主存储器、系统存储器以及选项字节区域, 它们的地址分布及大小见下表,W55MH32大容量产品内部FLASH的构成:
模块 | 名称 | 地址 | 大小 |
主存储块 | 页 0 | 0x0800 0000 - 0x0800 07FF | 2K |
页 1 | 0x0800 0800 - 0x0800 0FFF | 2K | |
页 2 | 0x0800 1000 - 0x0800 17FF | 2K | |
页 3 | 0x0800 1800 - 0x0800 1FFF | 2K | |
… | … | … | |
页 255 | 0x0807 F800 - 0x0807 FFFF | 2K | |
信息块 | 系统存储器 | 0x1FFF F000 - 0x1FFF F7FF | 2K |
选择字节 | 0x1FFF F000 - 0x1FFF F7FF | 16 | |
闪存存储器接口寄存器 | FLASH_ACR | 0x4002 2000 - 0x4002 2003 | 4 |
FALSH_KEYR | 0x4002 2004 - 0x4002 2007 | 4 | |
FLASH_OPTKEYR | 0x4002 2008 - 0x4002 200B | 4 | |
FLASH_SR | 0x4002 200C - 0x4002 200F | 4 | |
FLASH_CR | 0x4002 2010 - 0x4002 2013 | 4 | |
FLASH_AR | 0x4002 2014 - 0x4002 2017 | 4 | |
保留 | 0x4002 2018 - 0x4002 201F | 4 | |
FLASH_OBR | 0x4002 201C - 0x4002 201F | 4 | |
FLASH_WRPR | 0x4002 2020 - 0x4002 2023 | 4 |
主存储
型号 | W55MH32L | W55MH32Q |
Flash (KB) | 1024 | 1024 |
SRAM (KB) | 96 | 96 |
定时器 | ||
高级 | 2 | 2 |
通用 | 10 | 10 |
基本 | 2 | 2 |
通信接口 | ||
SPI | 2 | 2 |
I2C | 2 | 2 |
USART/UART | 5 | 3 |
USB | 1 | 1 |
CAN | 1 | 1 |
SDIO | 1 | - |
Ethernet | 1 | 1 |
GPIO 端口 | 66 | 36 |
12 位 ADC (通道数) | 3(12 个通道) | 3(12 个通道) |
12 位 DAC (通道数) | 2(2 个通道) | 2(2 个通道) |
随机数模块 | 支持 | 支持 |
硬件加密算法单元 | 支持 | 支持 |
页大小 (K 字节) | 4 | 4 |
CPU 频率 | 216M | 216M |
工作电压 | 2.0-3.6V | 2.0-3.6V |
工作温度 | -40-+85℃ | -40-+85℃ |
系统存储区
系统存储区是用户不能访问的区域,它在芯片出厂时已经固化了启动代码,它负责实现串口、USB以及CAN等ISP烧录功能。
选项字节
选项字节用于配置FLASH的读写保护、待机/停机复位、软件/硬件看门狗等功能,这部分共16字节。可以通过修改FLASH的选项控制寄存器修改。
2 对内部FLASH的写入过程
2.1 解锁
由于内部FLASH空间主要存储的是应用程序,是非常关键的数据,为了防止误操作修改了这些内容,芯片复位后默认会给控制寄存器FLASH_CR上锁, 这个时候不允许设置FLASH的控制寄存器,从而不能修改FLASH中的内容。
2.2 页擦除
在写入新的数据前,需要先擦除存储区域,W55MH32提供了页(扇区)擦除指令和整个FLASH擦除(批量擦除)的指令,批量擦除指令仅针对主存储区。
页擦除的过程如下:
- 检查 FLASH_SR 寄存器中的“忙碌寄存器位 BSY”,以确认当前未执行任何 Flash 操作;
- 在 FLASH_CR 寄存器中,将“激活页擦除寄存器位PER ”置 1;
- 用FLASH_AR寄存器选择要擦除的页;
- 将 FLASH_CR 寄存器中的“开始擦除寄存器位 STRT ”置 1,开始擦除;
- 等待 BSY 位被清零时,表示擦除完成。
2.3 写入数据
擦除完毕后即可写入数据,写入数据的过程并不是仅仅使用指针向地址赋值,赋值前还还需要配置一系列的寄存器,步骤如下:
- 检查 FLASH_SR 中的 BSY 位,以确认当前未执行任何其它的内部 Flash 操作;
- 将 FLASH_CR 寄存器中的 “激活编程寄存器位PG” 置 1;
- 向指定的FLASH存储器地址执行数据写入操作,每次只能以16位的方式写入;
- 等待 BSY 位被清零时,表示写入完成。
3 查看工程的空间分布
由于内部FLASH本身存储有程序数据,若不是有意删除某段程序代码,一般不应修改程序空间的内容, 所以在使用内部FLASH存储其它数据前需要了解哪一些空间已经写入了程序代码,存储了程序代码的扇区都不应作任何修改。 通过查询应用程序编译时产生的“*.map”后缀文件,可以了解程序存储到了哪些区域, 它在工程中的打开方式见下图,打开工程的map文件 , 也可以到工程目录中的“Listing”文件夹中找到,关于map文件的详细说明可参考《MDK的编译过程及文件类型》章节。
3.1 程序ROM的加载与执行空间
上述说明中有两段分别以“Load Region LR_ROM1”及“Execution Region ER_IROM1”开头的内容, 它们分别描述程序的加载及执行空间。 在芯片刚上电运行时,会加载程序及数据,例如它会从程序的存储区域加载到程序的执行区域,还把一些已初始化的全局变量从ROM复制到RAM空间, 以便程序运行时可以修改变量的内容。加载完成后,程序开始从执行区域开始执行。
在上面map文件的描述中,我们了解到加载及执行空间的基地址(Base)都是0x08000000,它正好是W55MH32内部FLASH的首地址, 即W55MH32的程序存储空间就直接是执行空间;它们的大小(Size)分别为0x000017a8及0x0000177c, 执行空间的ROM比较小的原因就是因为部分RW-data类型的变量被拷贝到RAM空间了; 它们的最大空间(Max)均为0x00080000,即512K字节,它指的是内部FLASH的最大空间。
计算程序占用的空间时,需要使用加载区域的大小进行计算,本例子中应用程序使用的内部FLASH是从0x08000000至(0x08000000+0x000017a8)地址的空间区域。
3.2 ROM空间分布表
在加载及执行空间总体描述之后,紧接着一个ROM详细地址分布表,它列出了工程中的各个段(如函数、常量数据)所在的地址BaseAddr及占用的空间Size, 列表中的Type说明了该段的类型,CODE表示代码,DATA表示数据,而PAD表示段之间的填充区域,它是无效的内容, PAD区域往往是为了解决地址对齐的问题。
观察表中的最后一项,它的基地址是0x0800175c,大小为0x00000020,可知它占用的最高的地址空间为0x0800177c,跟执行区域的最高地址0x0000177c一样, 但它们比加载区域说明中的最高地址0x80017a8要小,所以我们以加载区域的大小为准。 对比表 W55MH32大容量产品内部FLASH的构成 的内部FLASH页地址分布表, 可知仅使用页0至页2就可以完全存储本应用程序,所以从页3(地址0x08001800)后的存储空间都可以作其它用途,使用这些存储空间时不会篡改应用程序空间的数据。
4 操作内部FLASH的库函数
为简化编程,W55MH32标准库提供了一些库函数,它们封装了对内部FLASH写入数据操作寄存器的过程。
4.1 FLASH解锁、上锁函数
对内部FLASH解锁、上锁的函数见代码清单:FLASH-2:
代码清单:FLASH-2 FLASH解锁、上锁
#define FLASH_KEY1 ((uint32_t)0x45670123)
#define FLASH_KEY2 ((uint32_t)0xCDEF89AB)
/**
* @brief 对FLASH控制寄存器解锁,使能访问
* @param None
* @retval None
*/
void FLASH_Unlock(void)
{if ((FLASH->CR & FLASH_CR_LOCK) != RESET) {/* 写入确认验证码 */
FLASH->KEYR = FLASH_KEY1;
FLASH->KEYR = FLASH_KEY2;}
}/**
* @brief 对FLASH控制寄存器上锁,禁止访问
* @param None
* @retval None
*/
void FLASH_Lock(void)
{/* 设置FLASH寄存器的LOCK位 */
FLASH->CR |= FLASH_CR_LOCK;
}
解锁的时候,它对FLASH_KEYR寄存器写入两个解锁参数,上锁的时候,对FLASH_CR寄存器的FLASH_CR_LOCK位置1。
4.2 设置操作位数及页擦除
解锁后擦除扇区时可调用FLASH_EraseSector完成,见代码清单:FLASH-3:
代码清单:FLASH-3 擦除扇
/**
* @brief 擦除指定的页
* @param Page_Address: 要擦除的页地址.
* @retval FLASH Status:
可能的返回值: FLASH_BUSY, FLASH_ERROR_PG,
* FLASH_ERROR_WRP, FLASH_COMPLETE or FLASH_TIMEOUT.
*/
FLASH_Status FLASH_ErasePage(uint32_t Page_Address)
{
FLASH_Status status = FLASH_COMPLETE;/* 检查参数 */assert_param(IS_FLASH_ADDRESS(Page_Address));/*...此处省略XL超大容量芯片的控制部分*//* 等待上一次操作完成 */
status = FLASH_WaitForLastOperation(EraseTimeout);if (status == FLASH_COMPLETE) {/* 若上次操作完成,则开始页擦除 */
FLASH->CR|= CR_PER_Set;
FLASH->AR = Page_Address;
FLASH->CR|= CR_STRT_Set;/* 等待操作完成 */
status = FLASH_WaitForLastOperation(EraseTimeout);/* 复位 PER 位 */
FLASH->CR &= CR_PER_Reset;}/* 返回擦除结果 */return status;
}
本函数包含一个输入参数用于设置要擦除的页地址,即目标页的在内部FALSH的首地址,函数获取地址后,根据前面的流程检查状态位、 向控制寄存器FLASH_CR及地址寄存器FLASH_AR写入参数,配置开始擦除后,需要等待一段时间,函数中使用使用FLASH_WaitForLastOperation()等待, 擦除完成的时候才会退出FLASH_EraseSector()函数。
4.3 写入数据
对内部FLASH写入数据不像对SDRAM操作那样直接指针操作就完成了,还要设置一系列的寄存器, 利用FLASH_ProgramWord()和FLASH_ProgramHalfWord()函数可按字、半字的单位单位写入数据, 见代码清单:FLASH-4:
代码清单:FLASH-4 写入数据
/**
* @brief 向指定的地址写入一个字的数据(32位)
* @param Address: 要写入的地址
* @param Data: 要写入的数据
* @retval FLASH Status:
可能的返回值: FLASH_ERROR_PG,
* FLASH_ERROR_WRP, FLASH_COMPLETE or FLASH_TIMEOUT.
*/
FLASH_Status FLASH_ProgramWord(uint32_t Address, uint32_t Data)
{
FLASH_Status status = FLASH_COMPLETE;
__IO uint32_t tmp = 0;/* 检查参数 */assert_param(IS_FLASH_ADDRESS(Address));/*...此处省略XL超大容量芯片的控制部分*//* Wait for last operation to be completed */
status = FLASH_WaitForLastOperation(ProgramTimeout);if (status == FLASH_COMPLETE) {/* 若上次操作完成,则开始页入低16位的数据(输入参数的第1部分) */
FLASH->CR |= CR_PG_Set;*(__IO uint16_t*)Address = (uint16_t)Data;/* 等待上一次操作完成 */
status = FLASH_WaitForLastOperation(ProgramTimeout);if (status == FLASH_COMPLETE) {/* 若上次操作完成,则开始页入高16位的数据(输入参数的第2部分) */
tmp = Address + 2;*(__IO uint16_t*) tmp = Data >> 16;/* 等待操作完成 */
status = FLASH_WaitForLastOperation(ProgramTimeout);/* 复位 PG 位 */
FLASH->CR &= CR_PG_Reset;} else {/* 复位 PG 位 */
FLASH->CR &= CR_PG_Reset;}}/* 返回写入结果 */return status;
}
从函数代码可了解到,它设置FLASH->CR 寄存器的PG位允许写入后,使用16位的指针往指定的地址写入数据,由于每次只能按16位写入, 所以这个按字写入的过程使用了两次指针赋值,分别写入指定数据的低16位和高16位,每次赋值操作后,调用FLASH_WaitForLastOperation()函数等待写操作完毕。 标准库里还提供了FLASH_ProgramHalfWord()函数用于每次写入半个字,即16位,该函数内部的执行过程类似。
5 读写内部FLASH
5.1 代码分析
1.宏定义
#define FLASH_TEST_ADDR (0x0800F400) // 测试用Flash地址(32KB处)
地址选择:需确保该地址未被程序代码占用,且属于可擦写区域。
2.主函数逻辑
int main(void)
{
// 初始化系统时钟、串口等
delay_init();
UART_Configuration(115200);
printf("系统时钟信息..."); while (1)
{
FLASH_EraseProgram(number++); // 执行擦除编程测试
if (number == 0xFFFFFFFF) // 防止溢出,结束测试
{
printf("Test End\n");
while (1);
}
}
}
无限循环:持续测试,直到number溢出。
3.FLASH 擦除与编程函数
void FLASH_EraseProgram(uint32_t number)
{
// 1. 擦除页测试
SYSTICK_Reset();
FLASH_ErasePage(FLASH_TEST_ADDR);
if (擦除成功)
printf("擦除时间:%d ms\n", 计算时间);
else
进入死循环; // 2. 编程半字测试
SYSTICK_Reset();
for (i = 0; i < 512; i++)
FLASH_ProgramHalfWord(地址+i*2, 0x5A5A);
if (编程成功)
printf("编程时间:%d ms\n", 计算时间);
else
进入死循环;
}
擦除操作:使用FLASH_ErasePage擦除整页(通常为 2KB)。
编程操作:逐个半字写入0x5A5A,验证写入正确性。
4.时间测量函数
void SYSTICK_Reset(void)
{
SysTick->CTRL = 0; // 停止定时器
SysTick->LOAD = 0xFFFFFF; // 最大计数值
SysTick->VAL = 0; // 清零当前值
SysTick->CTRL = 0x05; // 使能定时器,选择HCLK时钟
}
时间计算:通过0xFFFFFF - SysTick->VAL得到操作耗时(单位:时钟周期)。
5. 串口配置函数
void UART_Configuration(uint32_t bound)
{// 使能USART1和GPIOA时钟RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_USART1 | RCC_APB2Periph_GPIOA, ENABLE);// 配置TX引脚(PA9)为复用推挽输出
GPIO_InitStructure.GPIO_Pin = GPIO_Pin_9;
GPIO_InitStructure.GPIO_Mode = GPIO_Mode_AF_PP;GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStructure);// 初始化USART1参数(波特率、数据位等)USART_Init(USART_TEST, &USART_InitStructure);USART_Cmd(USART_TEST, ENABLE);
}
功能:配置 USART1 为 115200 波特率,用于调试输出。
5.2 下载验证
6 FLASH_Eeprom
6.1 代码分析
1.主函数 main()
int main(void) {
uint8_t datatemp[SIZE], i;
delay_init();
UART_Configuration(115200);
// 打印系统时钟信息
RCC_GetClocksFreq(&clocks);
printf("SYSCLK: %3.1fMhz...\n", ...);
printf("FLASH EEPROM Tset.\n");
// 循环读写FLASH
while (1) {
WIZFLASH_Write(FLASH_SAVE_ADDR, (u16 *)TEXT_Buffer, SIZE); // 写入数据
WIZFLASH_Read(FLASH_SAVE_ADDR, (u16 *)datatemp, SIZE); // 读取数据
// 打印错误(应逐个字符处理)
for (i = 0; i < SIZE; i++) {
printf("%s\n", datatemp); }
memset(datatemp, 0x00, sizeof(datatemp)); // 清空数组
delay_ms(1000); // 延时
}
}
2.串口配置 UART_Configuration
void UART_Configuration(uint32_t bound) {// 使能时钟RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_USART1 | RCC_APB2Periph_GPIOA, ENABLE);// 配置串口引脚GPIO_Init(GPIOA, &GPIO_InitStructure); // PA9(发送)复用推挽,PA10(接收)浮空输入// 配置串口参数:115200波特率、8位数据等USART_Init(USART1, &USART_InitStructure);USART_Cmd(USART1, ENABLE); // 使能串口
}
配置 USART1,用于输出调试信息。
3.串口重定向
int SER_PutChar(int ch) {while (!USART_GetFlagStatus(USART1, USART_FLAG_TC)); // 等待发送完成USART_SendData(USART1, (uint8_t)ch);return ch;
}
int fputc(int c, FILE *f) {if (c == '\n') SER_PutChar('\r'); // 换行处理return SER_PutChar(c); // 实现printf通过串口输出
}
4. FLASH 操作
依赖eeprom.h的WIZFLASH_Write和WIZFLASH_Read,需确保其实现 FLASH 底层操作(擦除、读写等)。
地址:FLASH_SAVE_ADDR 0X08008000,需在可用 FLASH 空间内。